W pracy przedstawiono metodę pomiaru impedancji opartą na próbkowaniu sygnałów oraz wyznaczaniu ich parametrów z zastosowaniem algorytmów cyfrowego przetwarzania sygnałów. Zastosowano dyskretną transformację Fouriera do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych. Przeprowadzono analizę dokładności pomiaru impedancji uwzględniającą rozdzielczośc przetworników a/c, amplitudę sygnału pomiarowego, liczbę zebranych próbek w czasie pomiaru oraz stosunek składowych ortogonalnych impedancji mierzonej. Wyniki badań symulacyjnych pozwoliły na zrealizowanie analizatora do spektroskopii wysokoimpedancyjnej w szerokim zakresie częstotliwości od bardzo niskich 100uHz do 1MHz.
Authors
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language
- polski
- Publication year
- 2006
