W publikacji zaprezentowano dwie metody automatycznej detekcji liczby poziomów szumów RTS w sygnałach szumowych generowanych w przyrządach półprzewodnikowych. Pierwsza z nich wykorzystuje źródło danych, którym jest szum przyrządu zapisany w postaci wektora próbek, natomiast druga działa w oparciu o obrazy uzyskane metodą NSP. W odróżnieniu od metody NSP, prezentowane metody pozwalają na automatyczną identyfikację liczby poziomów szumów RTS bez konieczności interpretacji wizualnej wzoru obrazu uzyskanego z graficznej reprezentacji wyników.
Authors
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language
- polski
- Publication year
- 2007
