Na tle trendów rozwojowych diagnostyki analogowych układów elektronicznych AEC (Analog Electronic Circuits), przedstawiono nową metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zastosowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi funkcjami bazowymi TCRBF (Two-center Radial Basis Function), której walorem jest znaczne zmniejszenie liczby neuronów w warstwie ukrytej, lepsze dopasowanie do słownika uszkodzeń, poprawa dokładności klasyfikacji i większa odporność na tolerancje, w porównaniu z dotychczas stosowaną siecią z jednocentrowymi funkcjami bazowymi RBF. We wprowadzeniu scharakteryzowano podstawowe metody i tendencje rozwojowe diagnostyki AEC. W następnym punkcie omówiono 2 metody tworzenia słownika uszkodzeń, wykorzystujące krzywe identyfikacyjne w przestrzeni 2 i 3 wymiarowej. W punkcie 3 przedstawiono sieć neuronową z dwoma wariantami funkcji TCRB wraz z metodyką ich projektowania. W punkcie 4 zilustrowano metodę na przykładach.
Authors
Additional information
- Category
- Publikacja monograficzna
- Type
- rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku o zasięgu krajowym
- Language
- polski
- Publication year
- 2007
