Badano możliwości wykorzystania fluktuacji rezystancji w cienkich warstwach TiO2 do wykrywania gazów. Pomiary przeprowadzono, gdy próbka była oświetlona promieniowaniem ultrafioletowym o długości 370nm, w obecności gazu H2S. Stwierdzono, że fluktuacje rezystancji są indukowane promieniowaniem ultrafioletowym i pozwalają na wykrycie obecności H2S w stężeniu do 1.5 ppm.
Authors
- Zareh Topalian,
- prof. dr hab. inż. Janusz Smulko link open in new tab ,
- Gunar Niklasson,
- Claes Goran Granqvist
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuły w czasopismach dostępnych w wersji elektronicznej [także online]
- Language
- angielski
- Publication year
- 2007
