Przedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem. Podejście to bazuje na metodzie detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera w momentach ściśle określonych przez jego wewnętrzny licznik. Następnie mikrokontroler bazując na zestawie funkcji realizujących operacje na zbiorach rozmytych zwanych "interpreterem logiki rozmytej (ILR)", wyniku pomiarowym i słowniku uszkodzeń składającym się ze zbiorów reguł i funkcji przynależności dokonuje detekcji i w przypadku wykrycia uszkodzenia jego lokalizacji. Słownik uszkodzeń jest tworzony w etapie przed-testowym z rodziny pasów lokalizacyjnych, które z kolei powstają przez rozmycie krzywych identyfikacyjnych w wyniku uwzględnienia tolerancji elementów nieuszkodzonych. Krzywe identyfikacyjne umieszczone na płaszczyźnie przestrzeni wyników ilustrują zachowanie się układu badanego pod wpływem uszkodzeń elementów (uszkodzenia katastroficzne) jak i zmian ich wartości (uszkodzenia parametryczne).
Authors
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language
- polski
- Publication year
- 2007
