W pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego skanowania powierzchni.
Authors
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language
- polski
- Publication year
- 2007
Source: MOSTWiedzy.pl - publication "Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych" link open in new tab
