Zaproponowano dwie szybkie metody wyznaczania probabilistycznych miar jakości testu na etapie projektowania, opracowane pod kątem zastosowań w testowaniu analogowych układów elektronicznych. Pierwsza analityczna metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Druga jest metodą Monte Carlo wydatnie przyspieszoną poprzez zastąpienie procesu wielokrotnej symulacji układu testowanego z użyciem modelu o losowych wartościach parametrów, generatorem liczb pseudolosowych o rozkładzie prawdopodobieństwa zgodnym z rozkładem odpowiedzi układu testowanego. Parametry statystyczne rozkładu odpowiedzi układu testowanego uzyskuje się rozwijając funkcję układową w szereg Taylora z uwzględnieniem tylko wyrazów liniowych. Praca zawiera przykład wyznaczenia straty uzysku spowodowanej niepewnością progu komparatora.
Authors
Additional information
- Category
- Aktywność konferencyjna
- Type
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language
- polski
- Publication year
- 2009
