Spektroskopia bliskiej podczerwieni (NIR) wykorzystuje absorpcję promieniowania elektromagnetycznego w zakresie 12000-4000 cm-1, (780¬-2500 nm). Absorpcja NIR pochodzi od nadtonów i drgań kombinacyjnych wiązań C-H, N-H, O-H. Widmo uzyskane techniką NIR jest unikatowym "odciskiem palca" badanej substancji gdyż zależy zarówno od właściwości fizyko-chemicznych próbki jak i od stanu fazowego oraz postaci krystalicznej jej składników.Zaletami wykorzystywanej techniki NIR są: 1) nieniszczący, nieinwazyjny charakter analizy, 2) brak konieczności przygotowania próbki przed analizą, 3) prostota i szybkość wykonania rutynowej analizy, 4) wysoka czułość, 5) niski koszt, 6) uzyskanie kompleksowego obrazu badanego materiału, 7) zwiększenie bezpieczeństwa pracy 8) ograniczenie zużycia rozpuszczalników do przygotowania próbek przed analizą co ma korzystny efekt proekologiczny. Oprócz ww. zalet technika ta posiada również pewne wady. Widma surowe muszą być poddawane obróbce wstępne, gdyż są dość trudne w interpretacji. Wymaga to znajomości zaawansowanych technik chemometrycznych. Rodzaj wstępnej obróbki surowych widm ma kluczowy wpływ na jakość uzyskanych wyników. Technikami tymi należy posługiwać się bardzo ostrożnie, aby nie utracić informacji niezbędnych do właściwej interpretacji widm. Dlatego też znajomość tych technik jak i doświadczenie w ich stosowaniu jest bardzo cenne i pożądane. Najczęściej stosowanymi technikami obróbki wstępnej są transformacja SNV, MSC, transformacja "offset correction", transformacja "detrend correction", transformacja widm do ich drugich pochodnych algorytmem Savitzky'ego-Golaya a także ważenie szumów, ważenie atmosferyczne, wygładzanie [1-3].Celem pracy jest wykazanie wpływu transformacji widm surowych na efekt końcowy opracowywanych metod jakościowych. W tym celu badano wpływ pre-procesingu na jakość końcowego modelu tożsamościowego wykorzystując zbiór testowy.
Authors
Additional information
- Category
- Aktywność konferencyjna
- Type
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language
- polski
- Publication year
- 2010
