Przedstawiono nową koncepcję testera wbudowanego bist przeznaczonego do diagnostyki w pełni różnicowych układów analogowych implementowanych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo. w trakcie testowania mierzona jest amplituda i faza wyjściowego napięcia różnicowego. procedura detekcji i lokalizacji uszkodzeń bazuje na słowniku uszkodzeń przechowywanym w pamięci programu mikrokontrolera. korzystną cechą przestrzeni pomiarowej wyznaczonej przez amplitudę i fazę jest kształt trajektorii sygnatur uszkodzeń. we współrzednych biegunowych trajektorie mają kształt fragmentów linii prostej lub okręgu o prostym opisie analitycznym. fakt ten implikuje bardzo zwartą formę słownika. bist może być realizowany na bazie własnych zasobów testowanego systemu.
Authors
Additional information
- DOI
- Digital Object Identifier link open in new tab 10.1016/j.microrel.2011.02.022
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Language
- angielski
- Publication year
- 2011
