Przedstawiono procedurę samotestowania sieci analogowo-cyfrowych mikrosystemów elektronicznych opartych na mikrokontrolerach. Algorytm ten bazuje na metodzie 2D lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych. Składa się z części przedtestowej, w której tworzy się słownik uszkodzeń na komputerze PC i testowej zaimplementowanej w programie mikrokontrolera, która to dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych.
Authors
Additional information
- Category
- Aktywność konferencyjna
- Type
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language
- polski
- Publication year
- 2003
