Przedstawiono ideę nowych metod diagnostycznych 3-D i 4-D opartych na przek-ształceniu biliniowym. Metody te bazują na transformacjach operujących odpo-wiednio w trzy i czterowymiarowych przestrzeniach funkcji układowych. Dlatych metod omówiono algorytm lokalizacji i identyfikacji pojedynczych uszko-dzeń parametrycznych w liniowych układach elektronicznych oraz algorytm lo-kalizacji i identyfikacji pojedynczych uszkodzeń podwójnych. Przedstawionorezultaty badań eksperymantalnych metody 4D weryfikujących użyteczność no-wych metod oraz implementację tej metdoy w sztucznej sieci neuronowej.
Authors
Additional information
- DOI
- Digital Object Identifier link open in new tab 10.1109/tim.2003.809075
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Language
- angielski
- Publication year
- 2003
