W pracy przedstawiono automatyczny system do pomiarów małoczęstotliwoscio-wych szumów struktur elementów półprzewodnikowych. System umożliwia automa-tyczne wyznaczanie charakterystyk stałoprądowych badanego elementu, pomiarszumów i wyznaczanie gęstości widmowej mocy w zadanym zakresie polaryzacji.Przytoczono wyniki przeprowadzonych testów systemu. Ważną składową pracy wy-niki pomiarów szumów tranzystorów MOS i bipolarnych wzyskane w opracowanymsystemie pomiarowym. Celem pomiarów była charakteryzacja pod względem szumo-wym zastosowanych materiałów i procedur technologicznych.
Authors
Additional information
- Category
- Doktoraty, rozprawy habilitacyjne, nostryfikacje
- Type
- praca doktorska pracowników zatrudnionych w PG oraz studentów studium doktoranckiego
- Language
- angielski
- Publication year
- 2003
