W referacie przedstawiono rodzaje narażeń powodowanych impulsowymi zakłóceniami elektromagnetycznymi występującymi w środowisku urządzeń energoelektronicznych. Przedstawiono poziomy energii i źródła zakłóceń które stanowią wyładowania elektrostatyczne, przebiegi łączeniowe w obwodach indukcyjnych i wyładowania atmosferyczne. Przedstawiono sposoby badania odporności na zakłócenia impulsowe. Zaprezentowano wyniki uzyskane z przeprowadzonych testów narażeniami impulsowymi układu scalonego UCY 7400 oraz narażeń na obwód z tranzystorem bipolarnym. Określono wpływ parametrów impulsu zakłócającego na uszkodzenia badanych układów. Normy i przepisy zostały odniesione bezpośrednio do badanych elementów elektronicznych.
Authors
- dr inż. Krzysztof Fagiewicz link open in new tab ,
- Stanislaw Witkowski
Additional information
- Category
- Aktywność konferencyjna
- Type
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language
- polski
- Publication year
- 2003
