Przedstawiono skomputeryzowaną analizę wielkości i kształtu mikroziaren ściernych elektrokurundu zwykłego i węglika boru przy użyciu specjalnego oprogramowania MultiScan v 6.08 oraz zautomatyzowane pomiary z wykorzystaniem analizatora laserowego Analysette 22. Analizowano długość, szerokość i pole powierzchni obrazu mikroskopowego mikroziaren.
Authors
Additional information
- Category
- Aktywność konferencyjna
- Type
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language
- polski
- Publication year
- 2003
