Przedstawiono system do pomiarów małoczęstotliwościowych szumów struktur elementów półprzewodnikowych. Szczegółowo omówiono zaprojektowane i wykonane oprogramowanie sterujące systemem pomiarowym.
Authors
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language
- polski
- Publication year
- 2003
