Przedstawiono wyniki pomiaru i analizy widm absorpcji promieniowania X na krawędziach K germanu i galu uzyskane dla szkieł Ca3Ga2Ge3O12 i Ca3Ga2Ge4O14.Opisano szczegółowo lokalne otoczenie wokół jonów Ga i Ge (analiza EXAFS) i porównano uzyskane dane strukturalne z danymi opisującymi stechiometryczne odpowiedniki krystaliczne.
Authors
- Damian Chełstowski,
- dr hab. inż. Agnieszka Witkowska link open in new tab ,
- prof. dr hab. inż. Jarosław Rybicki link open in new tab ,
- Bohdan Padlyak,
- Angela Trapananti,
- Emiliano Principi
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Language
- angielski
- Publication year
- 2003
