W artykule przedstawiono treściwy opis wybranych elementów nowego stanowiska badawczego dla materiału Taylor-Schneebeli (T-S) w warunkach płaskiego stanu odkształcenia. Omówiono wykorzystywane systemy pomiarowe, w tym nowy oparty na rejestracji zdjęć cyfrowych. Analiza pomiarów związana jest z metodami cyfrowej interpretacji obrazów, co umożliwia śledzenie pola przemieszczania i obrotów cząstek materiału modelowego.
Authors
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language
- polski
- Publication year
- 2003
