W artykule przedstawiono metodę pomiaru parametrów impedancyjnych bazującą na próbkowaniu sygnałów pomiarowych i DSP. Przeanalizowano wpływ głównych źródeł niepewności i błędów na dokładność pomiaru pojemności. Zawarto analizę dla następujących parametrów: niesynchroniczne próbkowanie sygnałów pomiarowych (napięciowego i prądowego), rozdzielczość przetwornika a/c i ilość zbieranych próbek. Załączono wyniki symulacji.
Authors
Additional information
- Category
- Aktywność konferencyjna
- Type
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language
- angielski
- Publication year
- 2004