Przedstawiono metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach mieszanych-sygnałowo przeznaczoną do implementacji w testerach wbudowanych BIST wraz z algorytmem doboru jego optymalnych parametrów układowych.
Authors
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language
- polski
- Publication year
- 2005
