Przedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji uszkodzeń realizowanego przez mikrokontroler. Słownik uszkodzeń w postaci mapy krzywych identyfikacyjnych w przestrzeni K-wymiarowej jest konwertowany i umieszczany w pamięci programu mikrokontrolera. Metody te mają następujące zalety: pomiary części analogowych są wykonywane wyłącznie przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolerów, procedura diagnostyczna nie wymaga dużej mocy obliczeniowej, kod procedury i słownika uszkodzeń zajmują niewiele miejsca w pamięci programu mikrokontrolera.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2006
