Przedstawiono ogólną ideę oceny jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów z zakresu małych częstotliwości. Szczegółowe rozważania ograniczono do szumów przyrządów półprzewodnikowych. Przedstawiono zagadnienia związane ze źródłami szumów z zakresu m.cz., metod pomiaru szumów własnych, systemów do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych. Opisano metody klasyfikacji przyrządów do grup o zróżnicowanej jakości. Przytoczono przykładowe wyniki badań. W skrócie przytoczono uwagi dotyczące możliwości oceny różnych obiektów i zjawisk charakteryzujących się przebiegami przypadkowymi w zakresie m.cz.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja monograficzna
- Typ
- książka - monografia autorska /podręcznik o zasięgu krajowym
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2006
