W niskokoherencyjnych technikach pomiarowych kształt funkcji koherencji wykorzystywanego źródła ma bezpośredni wpływ na parametry metrologiczne układu pomiarowego. Z tego względu, w wielu aplikacjach niezbędne jest użycie metod pozwalających na zmianę kształtu tej funkcji. W artykule przeanalizowano możliwości kształtowania funkcji koherencji, a przedstawione analizy teoretyczne i wyniki symulacji komputerowych wskazują, że kształtowanie funkcji koherencji polepsza parametry układów pomiarowych.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2007
