Artykuł przedstawia metodę identyfikacji parametrów impedancyjnych obiektów modelowanych dwójnikami. Metoda wykorzystuje właściwości przekształcenia biliniowego pozwalającego na przedstawienie impedancji obiektu jako funkcji każdego z parametrów obwodu zastępczego z osobna. Odwrotne przekształcenie biliniowe pozwala na wyznaczenie wartości każdego parametru na podstawie pomiaru impedancji na jednej częstotliwości dobranej dla każdego identyfikowanego elementu (na podstawie minimum względnej czułości identyfikowanego elementu na zmiany innych elementów), tak więc liczba częstotliwości pomiarowych jest równa liczbie identyfikowanych elementów. Pozwala to na skrócenia czasu identyfikacji w porównaniu do tradycyjnej metody identyfikacji opartej na dopasowaniu widma impedancyjnego (CNLS). Gdy znany jest model obiektu i rząd wartości elementów składowych, opracowana metoda w pełni nadaje się implementacji w tanich, przenośnych przyrządach diagnostycznych.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- DOI
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego link otwiera się w nowej karcie 10.1109/tim.2008.922073
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2008
