Przedstawiono skomputeryzowaną analizę wielkości i kształtu mikroziaren ściernych przy użyciu specjalnego oprogramowania MultiScan v.6.08 oraz zautomatyzowane pomiary z wykorzystaniem analizatora laserowego Analysette 22 Micro Tec mikroziaren czarnego węglika krzemu o numerze F32/29. Dokonano przeglądu konstrukcji najnowszych analizatorów czołowych producentów światowych.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja monograficzna
- Typ
- rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku o zasięgu krajowym
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2008
Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Komputerowa analiza wielkości mikroziaren ściernych" link otwiera się w nowej karcie
