Repozytorium publikacji - Politechnika Gdańska

Ustawienia strony

english
Repozytorium publikacji
Politechniki Gdańskiej

Treść strony

Analiza stanu polaryzacji światła w układach optycznej tomografii koherentnej dla badań struktury materiałów optoelektronicznych i mikroelektronicznych

Tematem rozprawy jest analiza stanu polaryzacji światła w optycznej tomografii koherentnej (OCT). Zagadnienie to dotyczy pomiaru stanu polaryzacji światła wsteczne odbitego lub wstecznie rozproszonego przez wewnętrzną strukturę badanego obiektu. Umożliwia to badanie właściwości optycznie anizotropowych materiałów, co pozwala na charakteryzację i rozróżnianie warstw tworzących wewnętrzną strukturę badanego obiektu oraz śledzenie zjawisk zachodzących w jego wnętrzu. Celem badania optycznych właściwości anizotropowych obiektów jest ich diagnostyka i ocena jakości, co pozwoli zweryfikować postawiona w pracy tezę: "Zastosowanie analizy polarymetrycznej w optycznej tomografii koherentnej rozszerza właściwości metrologiczne systemu pomiarowego o badanie anizotropii struktury warstwowej obiektów technicznych, co umożliwi zastosowanie PS-OCT (OCT z analizą stanu polaryzacji) do monitorowania zmian struktury obiektów technicznych".Zakres tematyki obejmuje analizę interferometrii niskokoherentnej oraz niskokoherentnych metod pomiaru stanu polaryzacji światła, opracowanie i implementację rozwiązań w systemie OCT przeznaczonym do badania obiektów niebiologicznych. Na podstawie przeprowadzonych badań wykazano użyteczność analizy stanu polaryzacji światła w optycznej tomografii koherentnej do badania obiektów technicznych o zróżnicowanych właściwościach optycznych. Zakres potencjalnych zastosowań metody obejmuje monitorowanie aktualnego stanu obiektu, diagnostyka, badanie struktury i jakości warstw tworzących obiekt, analizę parametryczną obiektu.

Autorzy

Informacje dodatkowe

Kategoria
Doktoraty, rozprawy habilitacyjne, nostryfikacje
Typ
praca doktorska pracowników zatrudnionych w PG oraz studentów studium doktoranckiego
Język
polski
Rok wydania
2010

Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Analiza stanu polaryzacji światła w układach optycznej tomografii koherentnej dla badań struktury materiałów optoelektronicznych i mikroelektronicznych" link otwiera się w nowej karcie

Portal MOST Wiedzy link otwiera się w nowej karcie