Przedstawiono nową metodę pomiaru parametrów przebiegów sinusoidalnych, takich jak okres, amplituda i napięcie offsetu, opracowaną dla elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Ideą metody jest utworzenie z wewnętrznych pomiarowych urządzeń peryferyjnych mikrokontrolera (liczników, przetworników A/C i komparatorów analogowych) rekonfigurowanych mikrosystemów pomiarowych cechujących się dużą elastycznością konfiguracyjną i niskim kosztem aplikacji. Przeprowadzono również ocenę niepewności pomiaru napięcia zaproponowaną metodą. Jej wyniki określają rozdzielczość i niepewność pomiaru napięć oraz dozwolone pasmo częstotliwości sygnałów mierzonych dla zaproponowanej metody.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2010
