Praca prezentuje wyniki badań strukturalnych oraz właściwości nadprzewodzących cienkich warstw xVN-(100-x)SiO2, gdzie x = 90, 80, 70, 60 mol%. Warstwy zostały wykonane metodą termicznego azotowania z użyciem amoniaku cienkich warstw tlenkowych otrzymanych metodą zol-żel. Badania struktury przeprowadzono metodami XRD oraz XPS, natomiast właściwości nadprzewodzące badano metodą MMMA. Właściwości nadprzewodzące warstw zależą zarówno od stosynku molowego VN/SiO2 jak również od grubości warstw. Nadprzewodnictwa nie zaobserwowano dla składu x = 90, co może być związane ze zbyt małą zawartością SiO2.
Autorzy
- prof. dr hab. inż. Barbara Kościelska link otwiera się w nowej karcie ,
- Antoni Winiarski,
- Witold Jurga
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2010
