Repozytorium publikacji - Politechnika Gdańska

Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz diagnostycznej z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania jego parametrów na przykładzie filtru dolnoprzepustowego 3-go rzędu.

Autorzy

• dr hab. inż. Zbigniew Czaja link otwiera się w nowej karcie ,
• dr inż. Michał Kowalewski link otwiera się w nowej karcie ,
• prof. dr inż. Romuald Zielonko link otwiera się w nowej karcie