W artykule zaprezentowano miernik parametrów impedancyjnych oparty na układzie typu ''programmable system On a Chip'' firmy Cypress. Zawiera on w sobie mikroprocesor oraz reprogramowalne bloki analogowe i cyfrowe. Do budowy modelu wykorzystano układ CY8C26443, w którym zaimplementowano metodę pomiaru opartą na dyskretnym przekształceniu Fouriera pozwalającą, na podstawie zebranych próbek napięcia i prądu, wyznaczyć składowe Re i Im mierzonej impedancji, a następnie wartości elementów RLC przy założonym modelu impedancji.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2011
Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Miernik elementów RLC na bazie układu ''programmable system On a Chip''" link otwiera się w nowej karcie
