Repozytorium publikacji - Politechnika Gdańska

Przedstawiono sposób usunięcia zakłóceń pojawiających się na obrazach uzyskiwanych z mikroskopu sił atomowych (AFM). Przybliżono kilka metod stosowanych do redukcji zakłóceń w obrazach. Następnie opisano zidentyfikowane zakłócenia harmoniczne oraz zaproponowany sposób ich znaczącej redukcji. W pracy zamieszczono szereg obrazów uzyskanych z mikroskopu AFM ilustrujących efekty powodowane zakłóceniami oraz skuteczność zaproponowanej metody.

Autorzy

• Marek Kiwilszo link otwiera się w nowej karcie ,
• dr hab. inż. Artur Zieliński link otwiera się w nowej karcie ,
• prof. dr hab. inż. Janusz Smulko link otwiera się w nowej karcie ,
• prof. dr hab. inż. Kazimierz Darowicki link otwiera się w nowej karcie