W artykule przedstawiono metody i algorytmy wykorzystywane do testowania defektów montażowych płytek drukowanych. Przedstawiono sposób komunikacji z układami scalonymi z interfejsem IEEE 1149.1 popularnie znanym jako JTAG, (ang. Joint Test Access Group). Opisano bloki sprzętowe zdefiniowane z standardzie JTAG, opis BSDL układów scalonych, sposób przeprowadzania testu oraz techniki generacji wektorów testowych.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2012
