Systematic Test Data Generation for Embedded Software
Autorzy
- dr inż. Justyna Zander link otwiera się w nowej karcie ,
- Xuezheng Xiong,
- Ina Schieferdecker
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2008
Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Systematic Test Data Generation for Embedded Software" link otwiera się w nowej karcie
