The topography, microstructure and electrical properties of strontium-borate glass and SBO glass containing bismuth and vanadium oxides, were studied. The structure was measured using X-ray diffraction (XRD), Energy Dispersive X-ray Spectrometer (EDS) and Scanning electron microscope (SEM) methods. The A.C. complex conductivity was investigated as a function of temperature and frequency. The influence of the quantity of bismuth and vanadium oxides present, on glasses microstructure and electrical properties, was discussed. In order to obtain glass-ceramics, the glasses were subjected to crystallization at temperatures close to the exothermic processes indicated by the differential scanning calorimetry (DSC) measurements. X- ray diffraction (XRD) measurements were carried out to determine the presence of bismuth vanadate (Bi2VO5.5) crystalline phase in heat-treated samples. After heat-treatment, there were still some traces of the glassy phase within the samples. The effect of the crystallization process on the microstructure, topography and dielectric behavior of the material was analyzed. The A.C. dielectric permittivity, conductivity and impedance were discussed at specific temperature and frequency region, in addition conduction mechanisms were proposed.
Autorzy
- dr hab. inż. Natalia Anna Wójcik link otwiera się w nowej karcie ,
- dr inż. Piotr Kupracz link otwiera się w nowej karcie ,
- dr inż. Marta Prześniak-Welenc link otwiera się w nowej karcie ,
- dr hab. inż. Jakub Karczewski link otwiera się w nowej karcie ,
- prof. dr hab. inż. Maria Gazda link otwiera się w nowej karcie ,
- dr inż. Katatrzyna SiuzdaK,
- dr hab. inż. Ryszard Jan Barczyński link otwiera się w nowej karcie
Informacje dodatkowe
- DOI
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego link otwiera się w nowej karcie 10.1016/j.ssi.2015.09.021
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2015