Thickness is one of the most important parameters in many applications using thin layers. This article describes thickness determination of a boron-doped nanocrystalline diamond (NCD) grown on fused silica glass. A spectroscopic measurement system has been used. A high refractive index (2.3 at 550nm) was achieved for NCD films. The thickness of NCD samples has been determined from the transmission spectrum.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- DOI
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego link otwiera się w nowej karcie 10.4302/plp.v10i3.844
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2018
