In this paper, a gray-scale CMOS image sensor (CIS) characterization system with an optimization feature has been proposed. By using a very fast and precise control of light intensity, based on the pulsewidth-modulation method, it is avoided to measure the illuminance every time. These features accelerate the multicriteria CIS optimization requiring many thousands of measurements. The system throughput is 2.5 Gb/s, which allows for capturing images from large arrays of the size 3000 × 3000 pixels at the rate of 25 frames/s, or small arrays (128 × 128) at the rate of 15 000 frames/s. The efficient transfer of measurement data to the external software allows immediate presentation of optimization results in 3-D plots. The system automatically measures nonuniformity, spatial noise, temporal noise, signal-to-noise ratio, dynamic range, nonlinearity and image lag. A flat diffuser has been proposed as a cheaper alternative to an integrating sphere. This optical front-end is particularly useful for testing prototype CISs and vision-chips implemented in standard CMOS technologies as low- or ediumdynamic-range imagers.
Autorzy
- dr inż. Miron Kłosowski link otwiera się w nowej karcie ,
- dr hab. inż. Jacek Jakusz link otwiera się w nowej karcie ,
- dr hab. inż. Waldemar Jendernalik link otwiera się w nowej karcie ,
- dr hab. inż. Grzegorz Blakiewicz link otwiera się w nowej karcie ,
- prof. dr hab. inż. Stanisław Szczepański link otwiera się w nowej karcie ,
- prof. dr inż. Sławomir Kozieł link otwiera się w nowej karcie
Informacje dodatkowe
- DOI
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego link otwiera się w nowej karcie 10.1109/tim.2018.2814118
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2018