Przedstawiono mechanizmy powstawania i sposoby pomiaru podatności układów cyfrowych na zakłócenia. Zaprezentowano metodę pomiaru dynamicznej odporności na zakłócenia układów cyfrowych z zastosowaniem wzorcowego sygnału szumowego z możliwością ograniczania szerokości pasma stymulującego sygnału szumowego. Opisano opracowane modele symulacyjne i przykładowe wyniki badań potwierdzające efektywność zaproponowanej metody.
Autorzy
- dr inż. Lech Hasse link otwiera się w nowej karcie ,
- Jerzy F. Kołodziejski,
- Jozef Piasecki,
- prof. zw. dr hab. inż. Ludwik Spiralski link otwiera się w nowej karcie
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2002
Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Zakłócenia w układach cyfrowych. Mechanizmy i metody pomiaru" link otwiera się w nowej karcie
