Omówiono metody realizacji w technice analogowej i cyfrowej wbudowanych źródeł sygnałów testujących. Zaprezentowano sposoby analizy odpowiedzi: metodę histogramową, cyfrowego przetwarzania sygnałów oraz wykorzystanie koncepcji "macierzy z sumą kontrolną". Przedstawiono metodę testowania oscylacyjnego oraz DACBIST przeznaczony do testowania przetworników C/A, łączący testowanie oscylacyjne z techniką modulacji sigma-delta.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2002
Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo" link otwiera się w nowej karcie
