W artykule przedstawiono mikrosystem do pomiarów bardzo dużych impedancji ukierunkowany na identyfikację parametrów powłok antykorozyjnych metodą spektroskopii impedancyjnej. Do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych zastosowano w nim technikę cyfrowego przetwarzania sygnałów. Pozwoliła ona na uzyskanie szerokiego zakresu częstotliwości pomiarowych, zwłaszcza bardzo niskich, od ćHz, przy zachowaniu prostej konstrukcji zapewniającej niską cenę mikrosystemu. Przedstawiono badania dwu- i czteroelementowych dwójników RC modelujących powłoki antykorozyjne. Pozwoliły one na identyfikację elementów składowych dwójników z dokładnością nie gorszą niż 2% dla elementów rezystorowych i 2-4% dla pojemnościowych w zależności od wpływu sieci bocznikującej.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2002
