W pracy przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena, metodą oscylacyjną oraz metodą transformacji biliniowej. W badaniach użyto prototypowych układów scalonych typu MNABST-1 firmy Matsushita wyposażonych w magistralę. Do pomiarów zastosowano wektorowego oraz multimetr HP 34401A. Wykonane badania wykazały, że za pomocą magistrali możliwa jest diagnostyka układów analogowych na poziomie detekcji, lokalizacji i identyfikacji uszkodzeń. Oprócz wykorzystania magistrali do diagnostyki przedstawiono również przykłady jej alternatywnych zastosowań.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuły w czasopismach
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2002
