Przedstawiono system do pomiarów mało-częstotliwościowych szumów struktur elementów półprzewodnikowych. Szczegółowo omówiono zaprojektowane i wykonane oprogramowanie sterujące systemem pomiarowym.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2003
