Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do diagnostyki wybranych struktur analogowych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400 opracowanych w końcu 2001 r. w firmie NationalSemiconductor i Logic Vision. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena dla 3 i 5-elementowych układów rezystancyjnych. Przedstawiono metodykę testów i wyniki identyfikacji uszkodzeń. Wykonane badania wykazały, że za pomocą magistrali możliwa jest diagnostyka wybranych struktur analogowych na poziomie identyfikacji uszkodzeń. Zaprezentowano również wyniki badań właściwości metrologicznych układu STA400.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2003
