Zaproponowano nową metodę detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych, która może znaleźć zastosowanie do samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda ta jest oparta na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne na płaszczyźnie. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych. Cechuje się niewielką złożonością obliczeniową, dzięki czemu jej procedury diagnostyczne mogą być realizowane przez proste 8-bitowe mikrokontrolery powszechnie używane w praktyce. Ponadto nie wymaga rozbudowy mikrosystemu o dodatkowe elementy (BIST), gdyż do generacji przebiegu prostokątnego i pomiaru próbek napięcia odpowiedzi testowanej części analogowej wystarczają zasoby wewnętrzne mikrokontrolera takie jak: wyjścia cyfrowe, liczniki i przetworniki analogowo-cyfrowe.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2004
