W artykule dokonano przeglądu prac z zakresu testowania układów elektronicznych metodą oscylacyjną. Wskazując na niedostatki aktualnie stosowanej techniki testowania oscylacyjnego zaproponowano nową sygnaturę uszkodzeń dla układów analogowych. Proponowany parametr diagnostyczny jest wydobywany z odpowiedzi czasowej oscylatora testującego, w układzie złożonym z detektora szczytowego, modulatora sigma-delta oraz licznika rewersyjnego. Porównano właściwości sygnatury uzyskiwanej z odpowiedzi impulsowej oscylatora z sygnaturą bazującą na odpowiedzi skokowej. Wyniki badań symulacyjnych, przeprowadzonych w środowisku Matlab-Simulink na przykładzie generatora Meachama, wskazują na większą wrażliwość diagnostyczną sygnatury impulsowej. Łączne stosowanie sygnatury z innymi parametrami diagnostycznymi zwiększa współczynnik pokrycia uszkodzeń oraz umożliwia lokalizację uszkodzenia. Do realizacji testu wystarczające są proste środki techniczne, co sprzyja zastosowaniu proponowanej metody w układach samotestujących się.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2004
