W artykule przedstawiono zasady, na których oparta jest metoda OLCR, możliwości jej wykorzystania oraz wpływ czynników ograniczających jej zdolności pomiarowe. Zaprezentowano konstrukcję światłowodowego niskokoherencyjnego, reflektometrycznego systemu pomiarowego. Przedstawiono wyniki badań teoretycznych i doświadczalnych wpływu charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w systemie na rozdzielczość pomiaru.
Autorzy
- dr inż. Marcin Strąkowski link otwiera się w nowej karcie ,
- prof. dr hab. inż. Małgorzata Szczerska link otwiera się w nowej karcie ,
- Maciej Maciejewski,
- dr inż. Ryszard Hypszer link otwiera się w nowej karcie ,
- dr hab. inż. Bogdan Kosmowski link otwiera się w nowej karcie ,
- dr hab. inż. Jerzy Pluciński link otwiera się w nowej karcie
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2005
