Repozytorium publikacji - Politechnika Gdańska

Ustawienia strony

english
Repozytorium publikacji
Politechniki Gdańskiej

Treść strony

Noise Scattering Patterns Method for Recognition of RTS Noise in Semiconductor Components

Opisano nową metodę identyfikacji i wizualizacji szumów RTS. Metoda ta oparta na graficznym przedstawieniu przebiegu szumowego jest szczególnie użyteczna do szybkiej selekcji elektronicznych elementów półprzewodnikowych. Przedstawiono także rezultaty filtacji medianowej szumu zawierającego składową RTS. Filtrację medianową zastosowano do poprawienia obrazu szumu uzyskanego w wyniku zastosowania metody NSP.

Autorzy

Informacje dodatkowe

DOI
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego link otwiera się w nowej karcie 10.1063/1.2036841
Kategoria
Aktywność konferencyjna
Typ
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Język
angielski
Rok wydania
2005

Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Noise Scattering Patterns Method for Recognition of RTS Noise in Semiconductor Components" link otwiera się w nowej karcie

Portal MOST Wiedzy link otwiera się w nowej karcie