OCT to nowa metoda badania wewnętrznych struktur materiałów. Wśród wielu technik detekcji sygnału optycznego wykorzystywanych w OCT najpopularniejszą i najbardziej obiecującą jest OLCR (Opticla-Low Coherence Reflectomerty - reflektometria niskokoherentna). OLCR wykorzystuje szerokopasmowe źródła, których parametry, jak np.: charakterystyka widmowa, charakterystyka szumowa, determinują właściwości metrologiczne systemu OCT. W artykule zostały przedstawione wyniki pomiarów characterystyk widmowych oraz pomiary szumu natężeniowego źródeł szerokopasmowych. Otrzymane wyniki wykorzystano do okreśelnia zdolnosci pomiarowych zaprojektowanego systemu OCT.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2005
