Przedstawiono implementację nowej metody detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych układów analogowych w mieszanym sygnałowo mikrosystemie sterowanym mikrokontrolerem. Idea metody bazuje na przekształceniu transformującym zmiany odpowiedzi układu na impuls prostokątny wynikające ze zmian wartości poszczególnych elementów na krzywe identyfikacyjne na płaszczyźnie. Metoda ta nie wprowadza nadmiarowości sprzętowej do mikrosystemów. Procedura pomiarowo-diagnostyczna jest realizowana wyłącznie przez istniejący już w mikrosystemie mikrokontroler.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2005
