Przedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test), ścieżkę sterująco-obserwacyjną oraz magistralę ułatwionego testowania IEEE 1149.1. Przedyskutowano zalety i wady poszczególnych metod oraz perspektywy ich praktycznych zastosowań.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2005
Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych" link otwiera się w nowej karcie