Repozytorium publikacji - Politechnika Gdańska

Przedstawiono zależności Mott'a - Schottky'ego dla różnych częstotliwości pomiarowych. Kształt uzyskanych zależności zależy od doboru tych częstotliwości. Związane jest to z tym, że stężenie defektów w warstwie pasywnej zależy od doboru częstotliwości. Metoda DEIS pozwala na uniknięcie tych niedogodności.

Autorzy

• prof. dr hab. inż. Kazimierz Darowicki link otwiera się w nowej karcie ,
• dr hab. inż. Stefan Krakowiak link otwiera się w nowej karcie ,
• dr hab. inż. Paweł Ślepski link otwiera się w nowej karcie