W pracy przedstawiono nowe podejście do korekcji rezystorów warstwowych polegające na wytwarzaniu dodatkowego kontaktu w celu rozszerzenia zakresu korekcji i uproszczenia projektowania. Ponadto zaprezentowano nową szybką metodę wyznaczania charakterystyk korekcyjnych a także weryfikację eksperymentalną. Przedstawiono wyniki w postaci zakresów korekcji i względnych przyrostów rezystancji w funkcji kształtu dodatkowego kontaktu oraz długości nacięcia laserowego. Porównano stabilność długoterminową, długości pobudzenia impulsowego i szumy niskoczęstotliwościowe dla rezystorów 2- i 3-kontaktowych.
Authors
- dr inż. Marek Wroński link open in new tab ,
- Sławomir Kamiński,
- Edward Miś,
- Andrzej Dziedzic
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Language
- angielski
- Publication year
- 2005
